SJ 50033.5-1994 半导体分立器件.GP和GT级GF 311型半导体黄色发光二极管详细规范
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ID： |
F25B692663DE4471A00F02916F463747 |
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文件大小(MB)： |
0.43 |
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页数： |
10 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/5—94,半导体分立器件,GP和GT级GF 311型半导体黄色,发光二极管详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for semiconductor yellow light emitting,diodes for type GF 311 of GP and GT classes,1994-09-30 发布1994-12S1 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,GP和GT级GF 311型半导体黄色,、发光二极管详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for semiconductor yellow light emitting,diodes for type GF 311 . GP and GT classes,SJ 50033/5-94,1范围,1.1 主题内容,本规他规定,r GF 311型半导体黄色发光二极管的详细要求。该种器件按GJB 33《半导体,分立器件总规范》的规定,提供产品保证的二个等级（GP和GT级）,1.2 外形尺寸,见图員,1.3 最大额定值,注:1）脉冲宽度0. 5ms,且P卜mi,w, く户f址,2）脓冲宽度1所,每秒300个一冲C300pps）,3） 7\ >50 C时按！.6mW/ C线性地降额,ムドエセJ’ y 1 ns),iP l -M： ：il ，ユ肚T、な,mA mA(pk) A(pk),V,r = 1 OjuA,tnW (pk) C C,35 60 1.0 5 120 -55.10。丒55700,1.4主要光特性和电特性（Ta = 25 C）,八,(mA),几,(med) (med),匕,（V）,却,(nm) (pF),し,(mA),1ドニ20mA,6 -0°,厶と士20mA.,"：3ザ,A = 20mA,VR ^丒0,J 31 MHz,VR =3V,典型值最小值最小值最大值最小值最大值最大值最大值,20 1. 〇0.50 3.0 580 590 1.00 1,中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01 实施,—1 —,SJ 50033/5-94,2引用文件,下列文件的朽效版本,在本规范规罡的范围内,构成本规范的一部分,GJB 33 半导体分立器件总规范,GJB 128 半导体分立器件试验方法,SJ 2355.1-SJ 2355. 7半导体发光器件测试方法,SJ/Z 9014.2 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件,3要求,3.1概述,各条要求应按GJB 33和本规范的规定,312缩写、符号和定义,本规范使用的缩写,符号和定义应符合GJB 33.SJ/Z 9014.2和ド列的规痘,G -----发光强度,ホ，一ー发光二极管峰值犒射波长.,人——正向脉冲峰值工作电流,ル,,--- 正向瞬态峰值电流。 9——,以光源对称轴为中心轴的立体角,在该角内测量光强,LED——发光二极管,3.3设计、结构和外形尺寸,LED的设计、结构和外形尺寸加图I所示.,3. 3.I半导体芯片材料,芯片结构材料为磷師化緣（GaAsP）,3.3.2 引线涂层,引线涂层应镀金,也叮按照合同规定（见6, 2）镀锡,3.3.3 引线长度,当要求器件直接用ナ专丒用设备セ路的蛋装或自动装配技术程庠时,可按合同的规定（见,8 2）提供引线长度不同干图!规定的器件,3 .4性能特性,性能特性应符合表1、2、3和5的规定（,表5収适用于“GT”级器件）,3. 5标志,制造厂有权选择将GJB 33中规定的下列标志从管体上省略,a.制选厂的识别,4质量保证规定,4.! 抽样和检验,抽样和检险应按GJE 33和本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应包括表K2和3中规定的检险和试验,r.. 2 —,下载,SJ 50033/5-94,4.3 筛选（仅对GT级）,GT级器件应按表5中规定的步骤和条件进行百分之百的检验:,批中所有器件都应进行表5中A-Jr和%三个参数的测试,并将测试结果记录下来。所有,器件都应做识别标志,以便老化试验后做ユ参数的最终测试。老化前经密封试验或ん、ハ和%,参数测试失效的器件应从批中剔除,且在批记录中记录下剔除的失效器件数和噌号。老化后照,过ユ极限值的所有器件应从批中剔除,且在批记录中记录下剔除的失效器件数。如果老化行,有百分之卜或更多的器件失效,则整个批不能做为GT级器件,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应包括A、B和C组中规定的检验和试验,以及下面的规定.,4.4.1 如果制造厂选择下面的方法做试验,那么应在做相应的B组试验之前,指定C组检验,中使用的样品,而且计算C组检验接收或拒收的失效器件数应等于B组检验中指定继续做C,组检验的样品中出现的失效器件数加上C组检验中出现的失效器件数,a.在做C组检验中的每ー项寿命试验时,制造厂有权选择将已经过34011 B组寿命试验,的全部或部分样品再进行660h的寿命试验,以满足C组寿命试验lQOQh的要求,b,在做C组检验中的热冲击（温度循环）试验时,制造厂有权选择将巳经过10次循环,的B组热冲击试验的全部样品或部分样品再进行!5次循环,以满足C组试脸25次循环的要,求,.,4.4.2 C组检验应在初始批时开始进行,然后在生产过程中毎隔6个月进行一次.,如果合同中已作规定（见6. 2）,那么制造厂应将质量一致性检验数……
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